微分干涉显微镜在工业中的应用很多，而微分干涉相衬法在材料显微分析中的效果显著，是一种极具前途的分析检验方法，且对样品的制备要求不高，微分干涉相衬法相对层次关系突出，呈明显的浮雕状，对颗粒、裂纹、孔洞以及凸起等能作出正确的判断，能够容易判断许多明场下所看不到的或难于判别的一些结构细节或缺陷，可进行彩色金相摄影等优点。      

 

    在金相显微镜检验方法中，微分干涉相衬法(DIC)是金相检验的一种强有力的工具，其特点主要为:  

  

 

 1、对金相样品的制备要求降低，对于某些样品，甚至只需抛光而不必腐蚀处理即可进行观察。优点是可以观察到样品表面的真实状态。

 

 2、所观察到的表面具有明显的凹凸感，呈浮雕状，样品各组成相间的相对层次关系都能显示出来，对颗粒、裂纹、孔洞以及凸起等都能作出正确的判断，提高了金相检验准确性，同时也增加了各相间的反差。  

 

 

 3、用微分干涉相衬法观察样品，会看到明场下所看不到的许多细节，明场下难于判别的一些结构细节或缺陷，可通过微分干涉进行反差增强而容易判断。  

 

 

 4、微分干涉相衬法基于传统的正交偏光法，又巧妙地利用了在棱镜基础上改良的DIC 棱镜和补色器(λ-片)等，使所观察的样品以光学干涉的方法染上丰富的色彩，从而可利用彩色胶卷或者数码产品(CCD 摄像头以及数码相机)进行彩色金相显微摄影。由于微分干涉相衬得效果与样品细节的浮雕像以及色彩都是可以调节的，因而比正交偏光更为优越。

 

沃德普微分干涉显微镜性能特点：

 

■ 采用无限远色差校正光学系统

■ 长工作距、明暗场两用平场消色差物镜，成像清晰、像面平坦

■ 配备反射式柯拉照明系统，为不同倍率的物镜提供均匀充足的照明

■ 正像三通观察筒，25°倾斜，极大的提高了观察的舒适性与操作的适应性

■ 配备了4寸带离合器的机械平台230X215mm，行程105mmX105mm，可快速移动

■ 最佳人机学设计，高刚性镜筒，“Y”型底座，调焦机构采用前置式操作控制，精微调同轴

■ 光源采用宽电压数字调光技术，具有光强调定与复位功能

■ 可选配摄影摄像装置、简易偏光装置、干涉滤光片、测微尺等附件，拓展应用领域