工业显微镜中常使用到微分干涉显微镜，而微分干涉技术是出现在60年代，这项技术的出现，大大的提高了显微镜的检测效果，微分干涉技术不仅能观察无色透明的被测物，还可以在图像显现出立体感。可以说效果更优于相衬技术，观察效果更逼真。

 

    原理：微分干涉镜检术是利用特制的渥拉斯顿棱镜来分解光束。分裂出来的光束的振动方向相互垂直且强度相等，光束分别在距离很近的两点上通过被检物体，在相位上略有差别。由于两光束的裂距极小，而不出现重影现象，使图像呈现出立体的三维感觉。  

 

    DIC 显微镜的物理原理完全不同于相差显微镜，技术设计要复杂得多。DIC 利用的是偏振光，有四个特殊的光学组件：偏振器(polarizer)、DIC 棱镜、DIC 滑行器和检偏器(analyzer)。

 

    偏振器直接装在聚光系统的前面，使光线发生线性偏振。在聚光器中则安装了偌玛斯基棱镜，即DIC 棱镜，此棱镜可将一束光分解成偏振方向不同的两束光(x 和y)，二者成一小夹角。

 

    聚光器将两束光调整成与显微镜光轴平行的方向。最初两束光相位一致，在穿过标本相邻的区域后，由于标本的厚度和折射率不同，引起两束光发生了光程差。

 

    在物镜的后焦面处安装了第二个偌玛斯基棱镜，即DIC 滑行器，它把两束光波合并成一束。这时两束光的偏振面(x 和y)仍然存在。

 

    最后光束穿过第二个偏振装置，即检偏器。在光束形成目镜DIC 影像之前，检偏器与偏光器的方向成直角。检偏器将两束垂直的光波组合成具有相同偏振面的两束光，从而使二者发生干涉。x 和y 波的光程差决定着透光的多少。光程差值为0 时，没有光穿过检偏器；光程差值等于波长一半时，穿过的光达到最大值。于是在灰色的背景上，标本结构呈现出明暗差。

 

    为了使影像的反差达到最佳状态，可通过调节DIC 滑行器的纵行微调来改变光程差，光程差可改变影像的亮度。调节DIC 滑行器可使标本的细微结构呈现出正或负的投影形象，通常是一侧亮，而另一侧暗，这便造成了标本的人为三维立体感，类似大理石上的浮雕。  

 

    微分干涉显微镜在工业上的应用很广泛，舜宇微分干涉显微镜灵活的系统组合、卓越的成像性能、稳定的系统结构，MX6R系列专业应用于工业检测及金相分析领域。